Dielectric behavior of PLZT x/80/20 ferroelectric ceramics

resumo

PLZT x/80/20 (x=6, 8, 10 at%) ferroelectric ceramics were prepared by conventional oxide mixture method. X-ray difraction analysis show pure perovskite phases. The dielectric properties were analyzed in a wide frequency and temperature ranges, specially around the transition temperature, taking into account the incorporation of the lanthanum into the lattice. A relaxor behavior with diffuse phase transition was observed for all compositions.

palavras-chave

RHOMBOHEDRAL PB(ZR1-XTIX)O-3 CERAMICS; RELAXOR FERROELECTRICS; LANTHANUM MODIFICATION; RELAXATION

categoria

Materials Science; Physics

autores

Garcia, O; Pelaiz, A; Calderon, F; Amorin, H

Grupos

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